產(chǎn)品簡介：

XRF熒光光譜分析儀非常堅固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求高的應(yīng)用?？梢杂脕韺Ω鞣N不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無輻射性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。XRF熒光光譜分析儀可對各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢

1、檢測元素：標(biāo)準(zhǔn)配置可檢測30多種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素

2、專業(yè)性：礦石專用版分析軟件，采用智能一鍵測試

3、個性化定制工作模式：多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。

4、充分挖掘礦山價值：高清攝像頭，可對被檢測的礦脈或礦點部位進(jìn)行更直觀的觀察，并對開采過程進(jìn)行精確管理和控制，隨時檢測礦石品位。

5、對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進(jìn)行精確快速分析，為礦石品位的測定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判定依據(jù)。

6、環(huán)境監(jiān)控：對開采礦山周圍土壤中的重金屬進(jìn)行監(jiān)測和檢測，評估礦山環(huán)境的修復(fù)情況，最大限度的監(jiān)測好礦山周邊的環(huán)境。

技術(shù)參數(shù)：

1、檢測元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探測器：美國Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國Amptek Si-pin（25 mm2）、德國KETEK SDD探測器 ；

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流最大可達(dá)100μA；

4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前，不需要外部標(biāo)樣，自動能量校準(zhǔn)核查；

5、濾光片：配置8個濾光片，可根據(jù)測試元素自動切換；

6、測試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗系數(shù)法修正；

7、點觸或扣動扳機(jī)控制測試開始，測試過程無需長扣扳機(jī)。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機(jī)測試樣品。